Презентация проекта, выполненного в рамках ФЦП «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы», по теме: «Обеспечение удалённого доступа к специализированному нанотехнологическому оборудованию» состоялась во вторник, 29 ноября, в Минобрнауки Россиичитать далее
Совет Федерации одобрил изменения в Федеральный конституционный закон «О судебной системе Российской Федерации» и Федеральный конституционный закон «Об арбитражных судах в Российской Федерации» в связ читать далее
На базе Северо-Восточного федерального университета создан центр прикладных вычислительных технологий Об этом сообщили в пресс-службе вуза. читать далее
Ядерный и космический кластеры фонда «Сколково» будут сотрудничать с немецким фондом Triangle Venture Capital Group по ряду ключевых направлений, в специальном приборостроении и создании новых мат читать далее
Интервью с Евгенией Михайловной Бовиной, студенткой химического факультета МГУ им. М.В. Ломоносова, победительницей конкурса проектных работ в рамках Всероссийской Интернет-Олимпиады по нанотехнологиям читать далее
Компания «СИБУР-инновации», официально ставшая резидентом Сколково, займется в его рамках разработкой кумольной технологии получения окиси пропилена Об этом сообщил руководитель группы по читать далее
В Москве прошла церемония награждения лауреатов «Зворыкинской премии». Третий год она собирает вокруг себя самых талантливых молодых ученых и специалистов со всей России. читать далее
ТПП РФ уделяет большое внимание вопросам подготовки кадров для новой экономики. На заседаниях «Меркурий-клуба», Комитета ТПП РФ по содействию профессиональному и бизнес-образованию, рассматриваются не только проблемы и перспективы, но и практический опыт участия предприятий – членов ТПП РФ в подготовке кадров для собственных нужд и отрасли в целом.читать далее
Модернизация промышленных производств требует новых подходов к парку инструментов измерения и контроля. Главный тренд в развитии метрологического оборудования состоит в переходе от предельных разрешений оптических методов (0,2–0,5 мкм) к масштабу линейных размеров в сотни, десятки и единицы нанометров. Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) сегодня является наиболее распространенным методом для измерения линейных размеров в диапазоне 10–6 – 10–9 м.читать далее
